首胎智力低下患儿脆性X染色体分析

　　首胎智力低下患儿脆性X染色体分析属于2005年第2卷第9期栏目，主要讲述了智力低下（mental retardation，MR）是一种以智力障碍为主的综合性症候群，智力低下儿童其智力功能明显低于同龄水平，同时伴有适应性行为缺陷智力低下（mentalretardation，MR）是遗传性智力低下的常见原因之一，本文就先天性儿童智力低下细胞遗传学检查中14例脆性X染色体综合征分析报告如下

　　1 对象与方法

　　1.1 研究对象 广西部分地区近10年来因申请二胎生育者在本遗传室进行病残儿鉴定的首胎智力低下患儿，年龄3.5～14岁，经体格检查及详细询问病史，排除后天性病因及意外伤害造成的弱智，进行细胞遗传学检查者共179例，男100例，女79例。

　　1.2 方法 取患儿及父母外周血各0.5ml，接种于缺叶酸型脆性位点诱导（MEM-FA）培养基5ml中37℃培养96h，收获水仙素，常规制片，G显带，必要时做C带、R带，镜下计

　　2 结果

　　本组资料共查出异常染色体37例，异常检出率20.67%，其中脆性X染色体综合征14例，占7.82%，男女各7例，均达到中度以上MR，年龄4～7岁，见表1、表2。

　　表1 37例异常染色体核型　略

　　表2 14例脆性X核型　略

　　3 讨论

　　脆性X染色体是指在Xq27～28带之间的染色体呈细丝样，导致其相连的末端呈随体样结构，由于

　　患者的主要症状是中、重度智力低下，IQ睾丸。有语言障碍，性情孤僻。有的女性“携带者”可有轻度智力低下。

　　近年来对Xq27.3脆性位点的研究表明，患者的X染色体上没有任何缺失，在fraX患者和大多数女性携带者中存在异常甲级基化，且获知其表达基因为FMR―1，临床上有否发病与基因的进一步扩增（前突变或全突变）及异常甲基化有关，前突变不会发病，但有发展成全突变基因的潜能，而全突变基因出现异常甲基化后，该基因灭活，男性便发病，女性则依据正常基因所在染色体随机灭活的程度而表现出不等的外显率。正常男性传递者所具有的fraX基因，表型自然是正常的，但其女儿在胚胎发育和卵细胞发育过程中，可能CGG重复序列进一步增加而形成全突变，因而传递给男孩时男孩便发病，传递给女孩时将产生女性携带者。

　　本组MR儿童共查出X染色体脆性位点14例，其中7例脆性部位为Xq27，符合典型fraX综合征表现，另有6例脆性位点为Xq26，1例为Xq23，除MR是其主要临床表现外，其他表现不典型。查患儿父母染色体核型共有5例，X脆性位点阳性，其中男性1例为fraXq27，有智力低、长脸、语言障碍等阳性临床特征，4例母亲为表型正常的携带者（1例fraXq27，3例fraXq26），6例MRfraXq26儿童共有50%母亲为同一区带的X染色体脆性位点阳性，提示除Xq27为已证实的fraX外，Xq26的脆性位点表达可能也与MR有关，此点有待今后进一步探讨，而对于MR儿童及其父母进行脆性X检查，也证实对今后产前诊断及fraX综合征的预防具有重要意义。